双十科技关于激光发光强度测量
    发光强度测量的理论基础是反平方定律。真实光源都不是点光源，而是具有
一定大小的发光面积。一般在被照物体和光源的距离达一!·倍以上时，才能看成点
光源。
    光度测量方法分目视法和客观法。日视法是人眼直接参与测量过程。人眼对
相邻两表面的亮度是否相等有敏锐的判断能力，而要判断它们的亮度在数量上的
差别则是非常困难的。因而一切日视光度测量都归结为对两个面的亮度进行比较
和使之平衡。各种目视光度计就是根据这一特点设计的。其中最为完善的是陆末-
布洛洪光度计(Lummer-Brodhun Photometer)，如图4.12所示。右边为陆末立
方体。它的中心部分是两块450直角棱镜用光胶胶合构成的。其中一块的斜面上刻
蚀成图4.13右面所示的花样。被比较的两个光源分别照射漫射面Si和S2，视场中就
能看到图右所示花样，斜线部分和其他部分分别由Si和S2照明，这样就将两个被
比较的面并列在一起而便于比较它们的亮度。
    陆末立方体由两个直角棱镜胶合而成，其中一个沿斜而刻出不太深的凹槽。
这样，由反射镜来的光线大部分透过立方体到目镜，只有在A处，才有小部分反射
出去。透射光和反射光在日镜中形成两个互不干扰的相邻的像，如图4.13右下方
所示。
    阴影线和空自表示两个不同光源的像。在来自反射镜的光路中，各放一块无
色透明的补偿玻璃片，它们的位置各自对应日镜视场中的两个小梯形的像。这样
光线减弱了8%，梯形部位比其周围略暗，可以更准确地比较两个光源在视场中的
照度。
    调节待测光源1和辅助光源2在光具座上的位置，使之达到光度学平衡时，不
仅两个半圆间的界线消失，而且两个梯形和相应的半圆背景之间的界限也消失。
若待测光源1到陆末立方体的距离为Q，辅助光源2到立方体的距离为dX，则当目镜
视场中界线消失时，两边的光强度相等，于是由反平方定理得
    将待测光源1换成标准灯，重复以上步骤，调节辅助光源2到立方体的距离为
ds，可得
    这种测量发光强度的方法有较高的精确度。
    在两个灯的色温相差iooK以下时，用目视法就容易实现光度学平衡的观测;
但在色温相差looK以上时，由于视场中像的颜色不同，用日视法实现光度学平衡
的观测较困难。此时可用带有校正滤光片的硒光电池代替人的目视，就能顺利解
决这一困难。
    对于标准灯，测出的光电流为
    这种客观物理测量法比目视法的测量精确。
    目视法多用于做人眼的视觉试验，而光度测量则用客观法，或称物理接收器
法。客观法所用接收器必须带有V (A)修正滤光器，如图4.14所示。它的响应与
所接收的光通量或照度直接相关。因而一切使用客观法的光度测量都归结为光通
量或照度的测量。
    光度测量与辐射度测量一样，受多种因素的影响和干扰，难以得到高的精
度。其中值得重视的是V(A)修正的完善程度。测量系统必须由辐射度标准定
标。
    根据坎德拉的新定义，可以通过多种途径来复现光度基准。目前技术上最成
熟的方法是在绝对辐射计前加V (A)滤光器，使它具有标准光度观察者的光谱响
应特性，如图4.15所示。
    它是经过V(入)滤光器后，为辐射计实际测得的辐射照度，Till是滤光器在波
长555nm的透射比。
    由一组辐射计和V(A)滤光器系统组成光度基准，用以标定一组色温为2
856K的标准灯的发光强度值，作为次级标准，即发光强度副基准，且单位仍为发
光强度单位一一坎德拉。
    在实际工作中，往往需要测量光源发出的总光通量，因此要求建立相应的计
量标准。用分布光度计，根据发光强度副基准测量一组总光通量标准灯发光强度
的空间分布，由此计算得标准幻一发出的总光通量，作为用相对法(如用球形光度
计)测量光源总光通量的最高标准，叫做总光通量副基准。副基准标定相应的工
作基准，工作基准将副基准所保持的单位量值传递给各级标准，供实际工作中使
用。
    发光强度标准灯同时也是光照度标准灯。它在一定距离处的而上所建立的光
照度可以根据距离平方反比法则计算得出，用来标定光照度计。当光照射均匀漫
反射面时，若漫反射面的反射比为口，面上的照度为E，则它的亮度为
    因此，可用发光强度标准灯照射己知漫反射比的标准漫反射板来标定亮度
计，如图4.16所示。