双十科技关于发光强度测量
    发光强度测量的理论基础是反平方定律。真实光源都不是点光源，而是具有
一定人小的发光面积。一般在被照物体和光源的距离达!·倍以上时，才能看成点
光源。
    光度测量方法分日视法和客观法。日视法是人眼直接参与测量过程。人眼对
相邻两表面的亮度是否相等有敏锐的判断能力，而要判断它们的亮度在数量上的
差别则是非常困难的。因而一切目视光度测量都归结为对两个面的亮度进行比较
和使之平衡。各种目视光度计就是根据这一特点设计的。其中最为完善的是陆末-
布洛洪光度计(Lummer-Brodhun Photometer)，如图4.12所示。右边为陆末立
方体。它的中心部分是两块450直角棱镜用光胶胶合构成的。其中一块的斜面上刻
蚀成图4.13右而所示的花样。被比较的两个光源分别照射漫射面Si和S2，视场中就
能看到图右所示花样，斜线部分和其他部分分别由S1和S2照明，这样就将两个被
比较的面并列在一起而便于比较它们的亮度。
    陆末立方体由两个直角棱镜胶合而成，其中一个沿斜面刻出不太深的凹槽。
这样，由反射镜来的光线大部分透过立方体到日镜，只有在A处，才有小部分反射
出去。透射光和反射光在目镜中形成两个互不干扰的相邻的像，如图4.13右下方
所示。
    阴影线和空自表示两个不同光源的像。在来自反射镜的光路中，各放一块无
色透明的补偿玻璃片，它们的位置各自对应日镜视场中的两个小梯形的像。这样
光线减弱了8%，梯形部位比其周围略暗，可以更准确地比较两个光源在视场中的
照度。
    调节待测光源1和辅助光源2在光具座上的位置，使之达到光度学平衡时，不
仅两个半圆间的界线消失，而且两个梯形和相应的半圆背景之间的界限也消失。
若待测光源1到陆末立方体的距离为a，辅助光源2到立方体的距离为dX，则当日镜
视场中界线消失时，两边的光强度相等，于是由反平方定理得
    这种测量发光强度的方法有较高的精确度。
    在两个灯的色温相差looK以下时，用日视法就容易实现光度学平衡的观测;
但在色温相差iooK以上时，由于视场中像的颜色不同，用目视法实现光度学平衡
的观测较困难。此时可用带有校正滤光片的硒光电池代替人的日视，就能顺利解
决这一困难。
    对于标准灯，测出的光电流为
    光度测量与辐射度测量一样，受多种因素的影响和干扰，难以得到高的精
度。其中值得重视的是v (A)修正的完善程度。测量系统必须由辐射度标准定
标。
    根据坎德拉的新定义，可以通过多种途径来复现光度基准。日前技术上最成
熟的方法是在绝对辐射计前加V (A)滤光器，使它具有标准光度观察者的光谱响
应特性，如图4.15所示。
    它是经过V(A)滤光器后，为辐射计实际测得的辐射照度，Till是滤光器在波
，长555nm的透射比。
    由一组辐射计和v (A)滤光器系统组成光度基准，用以标定一组色温为2
856K的标准灯的发光强度值，作为次级标准，即发光强度副基准，且单位仍为发
光强度单位一一坎德拉。
    在实际工作中，往往需要测量光源发出的总光通量，因此要求建立相应的计
量标准。用分布光度计，根据发光强度副基准测量一组总光通量标准灯发光强度
的空间分布，由此计算得标准灯发出的总光通量，作为用相对法(如用球形光度
计)测量光源总光通量的最高标准，叫做总光通量副基准。副基准标定相应的工
作基准，工作基准将副基准所保持的单位量值传递给各级标准，供实际工作中使
用。
    发光强度标准灯同时也是光照度标准灯。它在一定距离处的面上所建立的光
照度可以根据距离平方反比法则计算得出，用来标定光照度计。当光照射均匀漫
反射面时，若漫反射面的反射比为P，面上的照度为E，则它的亮度为